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问题   更新时间2024/6/10 16:58:00

在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时,常采用的测量仪器为( )。
· 电镜
· 扫描隧道显微镜
· 图像处理技术

单选题
· 扫描隧道显微镜
王老师:19139051760(拨打)