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第1题

半导体电阻应变片在测量某一构件应变时,其电阻的相对变化主要是由( )引起。
·供桥电源的变化。
·半导体几何尺寸的变化;
·半导体电阻率的变化;
·贴片位置的温度变化;
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第2题

表示某一时刻的数据与另一时刻数据之间联系的紧密性的函数是( )。
·相干函数
·联合概率密度函数
·自相关函数
·互相关函数
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第3题

以下不属于变形观测的测量点的是( )。
·基准点
·放样点
·工作点
·观测点
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第4题

重要混凝土建筑物上的裂缝观测通常要求有较高的精度,以下不属于观测的内容的是( )。
·缝宽
·缝深
·缝长
·裂缝两侧混凝土块体的三维位移量
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